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ダイオード（545）

画像 製品番号 価格（USD） 量 ECAD 利用可能な数量 体重（ kg） MFR シリーズ パッケージ 製品ステータス 許容範囲 動作温度 取り付けタイプ パッケージ /ケース 基本製品番号 テクノロジー パワー -マックス サプライヤーデバイスパッケージ データシート ROHSステータス 水分感度レベル（MSL） ステータスに到達します その他の名前 ECCN htsus 標準パッケージ 構成 スピード ダイオード構成 電圧-DC リバース（ VR ）（最大） 現在 -平均修正（ io ）（ダイオードあたり） 電圧 -フォワード（ vf ）（ max @ if 逆回復時間（ trr） 現在 - @ vr 動作温度 -ジャンクション 現在 -平均修正（ io） 容量 @ vr、f 電圧zener インピーダンス（最大）（ ZZT）
NZX36A,133 NXP Semiconductors NZX36A 、133 0.0200
RFQ
 ECAD 109 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±2％ -55°C〜175°C 穴を通して do-204ah do-35 、軸 500 MW ALF2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-NZX36A 、133-954 1 1.5 V @ 200 mA 50 Na @ 25.2 v 36 v 140オーム
BZV55-C6V8,135 NXP Semiconductors BZV55-C6V8,135 0.0200
RFQ
 ECAD 50 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 表面マウント DO-213AC 、ミニメルフ、 SOD-80 500 MW llds;ミニフル ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZV55-C6V8,135-954 1 900 mV @ 10 Ma 2 µA @ 4 V 6.8 v 15オーム
BZX79-B20,113 NXP Semiconductors BZX79-B20,113 0.0200
RFQ
 ECAD 70 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±2％ -65°C〜200°C 穴を通して do-204ah do-35 、軸 400 MW ALF2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZX79-B20,113-954 1 900 mV @ 10 Ma 50 Na @ 14 V 20 v 55オーム
BZV55-B12,115 NXP Semiconductors BZV55-B12,115 0.0200
RFQ
 ECAD 55 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±2％ -65°C〜200°C 表面マウント DO-213AC 、ミニメルフ、 SOD-80 500 MW llds;ミニフル ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZV55-B12,115-954 1 900 mV @ 10 Ma 100 Na @ 8 V 12 v 25オーム
1N4741A,133 NXP Semiconductors 1N4741a、133 0.0400
RFQ
 ECAD 18 0.00000000 NXP半導体 * バルク アクティブ ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-1N4741a、133-954 ear99 8541.10.0050 1
BZX884-C13,315 NXP Semiconductors BZX884-C13,315 -
RFQ
 ECAD 7950 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜150°C 表面マウント SOD-882 BZX884-C13 250 MW DFN1006-2 ダウンロード 0000.00.0000 1 900 mV @ 10 Ma 100 Na @ 8 V 13 v 10オーム
BZV85-C36,113 NXP Semiconductors BZV85-C36,113 0.0300
RFQ
 ECAD 152 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 穴を通して DO-204AL 、DO-41 、軸 1.3 w DO-41 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZV85-C36,113-954 1 1 V @ 50 mA 50 Na @ 25 V 36 v 50オーム
BZB84-C2V4,215 NXP Semiconductors BZB84-C2V4,215 -
RFQ
 ECAD 2536 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ - 表面マウント TO-236-3 BZB84-C2V4 300 MW TO-236AB ダウンロード 0000.00.0000 1 1ペア共通アノード 900 mV @ 10 Ma 50 µA @ 1 V 2.4 v 100オーム
BAV99W,115 NXP Semiconductors bav99w、115 -
RFQ
 ECAD 2469 0.00000000 NXP半導体 自動車、AEC-Q101、BAV99 バルク アクティブ 表面マウント SC-70、SOT-323 bav99 標準 SOT-323 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-bav99w 、115-954 1 小さな信号= <200ma（io ）、任意の速度 1ペアシリーズ接続 100 V 150ma dc） 1.25 V @ 150 MA 4 ns 500 NA @ 80 V 150°C （最大）
BZX84-B20,215 NXP Semiconductors BZX84-B20,215 -
RFQ
 ECAD 1267 0.00000000 NXP半導体 BZX84 バルク アクティブ ±2％ -65°C〜150°C 表面マウント TO-236-3 250 MW TO-236AB - ROHS非準拠 未定義のベンダー 2156-BZX84-B20,215-954 1 900 mV @ 10 Ma 50 Na @ 14 V 20 v 55オーム
BZX79-C6V8,113 NXP Semiconductors BZX79-C6V8,113 0.0200
RFQ
 ECAD 300 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 穴を通して do-204ah do-35 、軸 400 MW ALF2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZX79-C6V8,113-954 1 900 mV @ 10 Ma 2 µA @ 4 V 6.8 v 15オーム
PZU3.3B2L,315 NXP Semiconductors PZU3.3B2L 、315 0.0300
RFQ
 ECAD 148 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±2％ -55°C〜150°C 表面マウント SOD-882 250 MW DFN1006-2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-PZU3.3B2L 、315-954 ear99 8541.10.0050 10,764 1.1 V @ 100 MA 5 µA @ 1 V 3.3 v 95オーム
BZV85-C43,133 NXP Semiconductors BZV85-C43,133 -
RFQ
 ECAD 7382 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 穴を通して DO-204AL 、DO-41 、軸 1.3 w DO-41 ダウンロード 0000.00.0000 1 1 V @ 50 mA 50 Na @ 30 V 43 v 75オーム
BZX79-C16,133 NXP Semiconductors BZX79-C16,133 -
RFQ
 ECAD 3155 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 穴を通して do-204ah do-35 、軸 BZX79-C16 400 MW ALF2 ダウンロード 0000.00.0000 1 900 mV @ 10 Ma 50 Na @ 11.2 v 16 v 40オーム
BZX84-B4V3,215 NXP Semiconductors BZX84-B4V3,215 0.0200
RFQ
 ECAD 51 0.00000000 NXP半導体 aec-q101 バルク アクティブ ±2％ -65°C〜150°C 表面マウント TO-236-3 250 MW TO-236AB ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZX84-B4V3,215-954 1 900 mV @ 10 Ma 3 µA @ 1 V 4.3 v 90オーム
BZT52H-C5V6,115 NXP Semiconductors BZT52H-C5V6,115 0.0200
RFQ
 ECAD 84 0.00000000 NXP半導体 aec-q101 バルク アクティブ ±5％ -65°C〜150°C（Ta） 表面マウント SOD-123F BZT52 375 MW SOD-123F ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZT52H-C5V6,115-954 1 900 mV @ 10 Ma 1 µA @ 2 V 5.6 v 40オーム
PMEG2002AESFB,315 NXP Semiconductors PMEG2002AESFB 、315 -
RFQ
 ECAD 2666 0.00000000 NXP半導体 * バルク アクティブ ダウンロード ear99 8541.10.0070 1
NZH20C,115 NXP Semiconductors NZH20C 、115 0.0200
RFQ
 ECAD 15 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±3％ -55°C〜150°C 表面マウント SOD-123F 500 MW SOD-123F ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-NZH20C、115-954 1 900 mV @ 10 Ma 40 Na @ 15 V 20 v 28オーム
PMEG2015EA115 NXP Semiconductors PMEG2015EA115 -
RFQ
 ECAD 9032 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ 表面マウント SC-76、SOD-323 ショットキー SOD-323 ダウンロード ear99 8541.10.0080 1 高速回復= <500ns 20 v 660 mV @ 1.5 a 50 µA @ 15 V -65°C〜125°C 1.5a 25pf @ 5v、1MHz
BZX84-A30,215 NXP Semiconductors BZX84-A30,215 -
RFQ
 ECAD 3818 0.00000000 NXP半導体 aec-q101 バルク アクティブ ±1％ -65°C〜150°C 表面マウント TO-236-3 250 MW SOT-23 ダウンロード 0000.00.0000 1 900 mV @ 10 Ma 50 NA @ 700 mV 30 V 80オーム
BZV55-C22,115 NXP Semiconductors BZV55-C22,115 0.0200
RFQ
 ECAD 145 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 表面マウント DO-213AC 、ミニメルフ、 SOD-80 500 MW llds;ミニフル ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZV55-C22,115-954 1 900 mV @ 10 Ma 50 Na @ 15.4 v 22 v 55オーム
PZU7.5B2L,315 NXP Semiconductors PZU7.5B2L 、315 0.0300
RFQ
 ECAD 117 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±2％ -55°C〜150°C 表面マウント SOD-882 250 MW DFN1006-2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-PZU7.5B2L 、315-954 10,764 1.1 V @ 100 MA 500 NA @ 4 V 7.5 v 10オーム
BZX884-C4V3,315 NXP Semiconductors BZX884-C4V3,315 0.0300
RFQ
 ECAD 16 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜150°C 表面マウント SOD-882 250 MW DFN1006-2 - 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZX884-C4V3,315-954 ear99 8541.10.0050 1 900 mV @ 10 Ma 3 µA @ 1 V 4.3 v 90オーム
BZX79-B20133 NXP Semiconductors BZX79-B20133 -
RFQ
 ECAD 6562 0.00000000 NXP半導体 BZX79 バルク アクティブ ±2％ -65°C〜200°C （TJ） 穴を通して do-204ah do-35 、軸 400 MW ALF2 - ROHS非準拠 未定義のベンダー 2156-BZX79-B20133-954 1 900 mV @ 10 Ma 50 Na @ 14 V 20 v 55オーム
BZX84-A16,215 NXP Semiconductors BZX84-A16,215 0.1000
RFQ
 ECAD 4 0.00000000 NXP半導体 aec-q101 バルク アクティブ ±1％ -65°C〜150°C 表面マウント TO-236-3 250 MW TO-236AB ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZX84-A16,215-954 ear99 8541.10.0050 1 900 mV @ 10 Ma 50 NA @ 700 mV 16 v 40オーム
BZV55-C3V0,135 NXP Semiconductors BZV55-C3V0,135 0.0200
RFQ
 ECAD 50 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 表面マウント DO-213AC 、ミニメルフ、 SOD-80 500 MW llds;ミニフル ダウンロード 影響を受けていない 2156-BZV55-C3V0,135-954 1 900 mV @ 10 Ma 10 µA @ 1 V 3 v 95オーム
BZX84J-C11,115 NXP Semiconductors BZX84J-C11,115 -
RFQ
 ECAD 3413 0.00000000 NXP半導体 aec-q101 バルク アクティブ ±5％ 150°C （TJ） 表面マウント SC-90、SOD-323F 550 MW SC-90 - ROHS非準拠 未定義のベンダー 2156-BZX84J-C11,115-954 1 1.1 V @ 100 MA 100 Na @ 8 V 11 v 10オーム
PMEG4002ESFYL NXP Semiconductors PMEG4002ESFYL 0.0300
RFQ
 ECAD 1 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ 表面マウント 0201 （0603 メトリック） ショットキー DSN0603-2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-PMEG4002ESFYL-954 ear99 8541.10.0070 1 小さな信号= <200ma（io ）、任意の速度 40 v 600 mV @ 200 mA 1.28 ns 6.5 µA @ 40 V 150°C （最大） 200mA 17pf @ 1V、1MHz
BZX79-C3V3,113 NXP Semiconductors BZX79-C3V3,113 0.0200
RFQ
 ECAD 354 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 穴を通して do-204ah do-35 、軸 400 MW ALF2 ダウンロード 1 （無制限） 影響を受けていない 2156-BZX79-C3V3,113-954 1 900 mV @ 10 Ma 5 µA @ 1 V 3.3 v 95オーム
BZV55-C3V0,115 NXP Semiconductors BZV55-C3V0,115 0.0200
RFQ
 ECAD 210 0.00000000 NXP半導体 - バルク アクティブ ±5％ -65°C〜200°C 表面マウント DO-213AC 、ミニメルフ、 SOD-80 500 MW llds;ミニフル ダウンロード 影響を受けていない 2156-BZV55-C3V0,115-954 1 900 mV @ 10 Ma 10 µA @ 1 V 3 v 95オーム
  • Daily average RFQ Volume

    2000+

    毎日の平均RFQボリューム

  • Standard Product Unit

    30,000,000

    標準製品ユニット

  • Worldwide Manufacturers

    2800+

    世界的なメーカー

  • In-stock Warehouse

    15,000 m2

    在庫倉庫

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